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绝缘材料绝缘阻抗测试仪

绝缘材料绝缘阻抗测试仪

价格:38450元浏览:35次联系:刘元元 / 15132636097 / 企业:北京北广精仪仪器设备有限公司留言店铺收藏

绝缘材料绝缘阻抗测试仪  材料说明

  A、通常,绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘,固体绝缘材料还起机械支撑作用.一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻,并具有合适的机械、化学和耐热性能.

  B、体积电阻班组可作为选择绝缘材料的一个参数,电阻率随温度和湿度的京戏化而显著变化.体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀,或都用来检测那些能影响材料质量而又不能作其他方法检测到的导电杂质.

  C、当直流电压加到与试样接触的两电极间时,通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值.电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致.对于体积电阻小于10的10Ω.m

  的材料,其稳定状态通常在1min内达到.因此,要经过这个电化时间后测定电阻.对于电阻率较高的材料,电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天,因此需要用较长的电化时间.如果需要的话,可用体积电阻率与关系来描述材料的特性.

  D、由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去,因些近似地测量表面电阻,测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度.所以,表面电阻率不是表面材料本身特性的参数,而是一个有关材料表面污染特性的参数.

  当表面电阻较高时,它常随时间以不规则的方式变化.测量表面电阻通常都规定11min的电化时间.

 绝缘材料绝缘阻抗测试仪 电阻率的测量方法和精度

  1、方法:测量高电阻常用的方法是直接法和比较法.

  直接法是测量加在试样上的直流电压和流过试样的电流而求得试样电阻.直接法主要有检流计法和直流放大法(高阻计法)比较法主要有检流计法和电桥法.

  2、精度:对于大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在?20%的范围内;对于不大于10的10Ω的电阻,仪器误差应在?10%的范围内.

  3、保护:测量仪器用的绝缘材料一般只具有与被测材料差不多的性能.试样的测试误差可以由下列原因产生:

  ①外来寄生电压引起的杂散电流通渠道.通常不知道它的大小,并且有漂移的特点;

  ②测量线路的绝缘材料与试样电阻标准电阻器或电流测量装置的并联.

使用高电阻绝缘奢侈可以改善测量误差,但这种方法将使仪器昂贵而又笨重,而且对高阻值试样的测量仍不能得到满意的结果.较为满意的改进方法是使用保护技术,即在所有主要的绝缘部位安置保护导体,通过它截信了各种可能引起误差的杂散电流;将这些导电联接在一起组成保护系统,并与测量端形成一个三端网络.当线路连接恰当时,所有外来寄生电压的杂散电流被子保护系统分流到测量电路以下,这就可大大减少误差的可能性.

在系统的保护端和被保护端之间存在的电解电势,接触电势或热电运势较小时,均能补偿掉,使它们在测量中不引起显著误差.

  在电流测量中,由于被保护端和保护端之间的电阻与电流测量装置并联可能产生误差,因此前者至少应为电流测量装置输入电阻的10倍,好为100倍.在电桥法测量中,保护端与测量端带有大致相同的电位,但电桥中的一个标准电阻与不保护端和保护端之间的电阻并联,因此,后者至少为标准电阻的10倍,好20倍.

  在开始测试前先断开电源和试样的连线进行一次测量,此时设备应在它的灵敏度许可范围内指示无穷大的电阻.可用一些已知值的标准电阻业检查设备运行是否良好.

  体积电阻率为了测业体积电阻率,使用的保护系统应能抵消由表面电流引起的误差.对表面泄漏可忽略的试样,在测量体积电阻时可以去掉保护.

  在被保护电极与保护电极之间的试样表面上的间隙宽度要均匀,并且在表面泄漏不致引起测量误差的条件下间隙应尽可能窄,实际使用时最小为1MM.

表面电阻率为测定表面电阻率,使用的保护系统应尽可能地抵消体积电阻引起的影响.

主要特点

电阻测量范围宽 1?104Ω~1?1018Ω

电流测量范围为2?10-4A~1?10-16A

体积小、重量轻、准确度高

电阻、电流双显示

性能好稳定、读数方便

所有测试电压(100/250/500/1000V)测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦,使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。既能测超高电阻又能测微电流

标准配置:

1,测试仪器:1台

2,电源线:1条

3,测量线:3根(屏蔽线,测试接线,接地线)

4,使用说明书:1份

符合标准及适用范围:

完全符合国家标准GB1410-2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法,ASTM D257绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求。

本仪器配不同的测量电极(夹具)可以测量不同材料(固体、粉体或液体)的体积电阻率和表面电阻率或电导率。适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。本仪器除能测电阻外,还能直接测量微弱电流。

应用范围:

a    材料高阻测试测量如防静电产品(防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计 算机房防静电活动地板等)电阻值的检测;

b    材料体积电阻(率)和表面电阻(率)测量;

c    电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究;

d    微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。

产品特点:

本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便,适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防树脂云母体积表面电阻率测试仪静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量电流如电子器件暗电流等

典型应用

1.硫化橡胶体积、表面电阻率测定

2.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值

3.测量防静电材料的电阻及电阻率

4.测量计算机房用活动地板的系统电阻值

5.测量绝缘材料电阻(率)

6.光电二极管暗电流测量

7.物理,光学和材料研究

8.高分子材料表面体积电阻率测定

温度影响

温度对不同物质的电阻值均有不同的影晌。

导电体在接近室温的温度,良导体的电阻值,通常与温度成线性关系:

ρ=ρ0(1 αt)

上式中的a称为电阻的温度系数。

未经掺杂的半导体的电阻随温度升高而下降:

有掺杂的半导体变化较为复杂。当温度从绝对零度上升,半导体的电阻先是减少,到了绝大部分的带电粒子(电子或电洞/空穴) 离开了它们的载体后,电阻会因带电粒子的活动力下降而随温度稍为上升。当温度升得更高,半导体会产生新的载体 (和未经掺杂的半导体一样) ,原有的载体 (因渗杂而产生者) 重要性下降,于是电阻会再度下降。

绝缘体和电解质绝缘体和电解质的电阻与温度的关系一般不成比例,而且不同物质有不同的变化,故不在此列出概括性的算式。

意义

1通常,绝缘材料用于将电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘;固体绝缘材料还起机械支撑作用。

对于这些用途,一般都希望材料具有尽可能高的绝缘电阻,有均匀一致的、得到认可的机械、化学和耐热性能。表面电阻随湿度变化很快,而体积电阻随温度变化却很慢,尽管其终的变化也许较大

2体积电阻率能被用作选择特定用途绝缘材料的一个参数。电阻率随温度和湿度的变化而显著变化,因此在为一些运行条件而设计时必须对其了解。体积电阻率的测量常被用于检查绝缘材料生产是否始终如一,或检测能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质

3  一直流电压加在与试样相接触的两电极之间时,通过试样的电流会渐近地减小到一个稳定值。电流随时间的减小 可能是 由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。对于体积电阻率小 于loll n"m的材料,其稳定状态通常在一分钟内达到,因此,经过这个电化时间后测定电阻。对于体积电阻率较高的材料,电流减小的过程可能会持续到几分钟、几小时、几天甚至几星期。因此对于这样的材料,采用较长的电化时间,且如果合适,可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性.

4由于或多或少的体积电导总是要被包括到表面电导测试中去,因此不能精确而只能近似地测量表面电阻或表面电导。测得的值主要反映被侧试样表面污染的特性。而且试样的电容率影响污染物质的沉积,它们的导电能力义受试样的表面特性所影响。。因此,表面电阻率不是一个真正意义的材料特性,

而是材料表面含有污染物质时与材料特性有关的一个参数。

    某些材料如层压材料在表面层和内部可能有很不同的电阻率,因此测量清洁的表面的内在性能是

有意义的。应完整地规定为获得一致的结果而进行清洁处理的程序,并要记录清洁过程中溶剂或其他

因素对于表面特性可能产生的影响。

 表面电阻,特别是当它较高时,常以不规则方式变化,且通常非常依赖于电化时间。因此,测量时通

常规定一分钟的电化时间。

  测量电阻可用二电极,一个接高压电极,另一个接电流电极就行了,仪器的地线用于屏蔽用,在测量高电阻时要与屏蔽箱的地相接以防干扰。测量低电阻时可以不用。国家标准GB1410《 固体绝缘材料绝缘体积电阻率和表面电阻率试验方 法》中推荐一种三电极测量方法:

它是由三个独立的电极组成:

1.中心为圆柱体,直径为50mm,标准中没有规定高度,但一般是40mm

2.圆柱体外为一圆环,圆环内径为60mm,外径为80mm,标准中没有规定高度,但一般是40mm

3.底为一平板,直径为100mm的圆板.标准中没有规定厚度,但一般为5mm

为什么测量时仪器的读数总是不稳?

    一般的材料其导电性不是严格像标准电阻样在一定的电压下有很稳定的电流,有很多材料特别是防静电材料其导电性不符合欧姆定律,所以在测量时其读数不稳。

这不是仪器的问题,而是被测量物体的性能决定的。有的标准规定以测量1分钟时间的读数为准。通常在测量高电阻或微电流时测量准确度因重复性不好,对测量读数只要求2位或3位。另外在测量大电阻时如果屏蔽不好也会因外界的电磁信号对仪器测量结果造成读数不稳。

测试

    测量时从低档位逐渐拔往高档,每拨一次稍停留1~2秒以使观察显示数字, 当被测电阻大于仪器测量量程时,电阻表显示“1”,此时应继续将仪器拨到量程更高的位置,当测量仪器有显示值时应停下,当前的数字乘以档次即是被测电阻值。当有显示数字时不要再往更高次档拨,否测仪器会过量程,机内保护电路开始工作,仪器测量准确度会下降。

表面电阻率surface resistivity

 在绝缘材料的表面层里的直流电场强度与线电流密度之商,即单位面积内的表面电阻。面积的大

小是不重要的。

 注:表 面 电 阻 率 的S1单 位 是Q。实 际 上 有 时 也 用 “欧 每 平 方 单 位 ”来 表 示 。

标准:GB/T 1410-2006《 塑料薄膜电阻率测定仪固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》

 GB/T 1410-2006本标准规定了固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的试验方法。这些试验方法包括对固体绝缘材料体积电阻和表面电阻的测定程序及体积电阻率和表面电阻率的计算方法

 体积电阻和表面电阻的试验都受到下列因素影响:施加电压的大小和时间;电极的性质和尺寸;在

试样处理和测试过程中周围大气条件和试样的温度、湿度。

电极electrodes

电极是具有一定形状、尺寸和结构的与被测试样相接触的导体。

注:绝缘电阻是加在与试样相接触的两电极之间的直流电压与通过两电极的总电流之商 绝缘电阻取决于试样的表面电阻和体积电阻

应用

电阻率较低的物质被称为导体,常见导体主要为金属,而自然界中导电性佳的是银,其次为半导体,硅锗。当存在外电场时,金属的自由电子在运动中不断和晶格节点上做热振子的正离子相碰撞,使电子运动受到阻碍,因而就具有了一定的电阻。其他不易导电的物质如玻璃、橡胶等,电阻率较高,一般称为绝缘体。介于导体和绝缘体之间的物质(如硅)则称半导体。电阻率的科学符号为 ρ(Rho)。 已知物体的电阻,可由电阻率ρ、长度l与截面面积A计算:ρ=RA/I,在该式中, 电阻R单位为欧姆,长度l单位为米,截面面积A单位为平方米,电阻率 ρ单位为欧姆?米

产品特点 

系统由800*480分辨率的高清晰彩色触摸屏显示测试过程参数。操作过程简单明了,测试信息一览无余  

高精度,高稳定度的测试结果:承诺精度0.15%, 实际精度,大部分档位出厂<0.08%。  

测试式样编号功能:用户可以输入测试式样的编号,或者有系统自动加1。方便用户将式样分类。方便将来查询。  

式样参数输入:可以输入测试试样的直径,测试粉末容器的电压测试距离并有系统自动保存。 

试样截面积自动显示。 

测试过程简单方便。测试材料参数,正向电压,反向电压,电阻率结果同屏显示,一目了然。 

机箱内温度自动检测,自动启动降温系统。 

内置实时时钟为系统记录测试时间提供数据。 

测试结果自动记录:试样编号,电阻率,测试时间。 

本机可以记录,查询,删除以往测试记录。 

可以通过随机的计算机软件上传测试记录到计算机,并可以导出成excel格式数据文件, 供用户归档,编辑,打印。  

为什么在测量电阻过程中不要改变对被测物的测试电压?

    在测量电阻过程中如果改变对被测物的测试电压,无论电压变高或变低时都将会产生大脉冲电流,这个大的电流很有可能使仪器过量程甚至更损坏仪器。另一方面如果电压突然变化也会通过被测量物体的(分布)电容放电或反向放电对测量仪器造成冲击而损坏仪器。有的物体的耐压较低,当您改变测量电压时有右能击穿而产生大电流损坏仪器。如果要改变测量电压,在确保被测量物体不会因电压过高击穿时,要先将量程开关拨到104档后关闭电源,再从仪器后面板调整到所要求的电压。有的材料是非线性的,即电压与电流是不符合欧姆定律,有改变电压时由于电流不是线性变化,所以测量的电阻也会变化。

产品保修承诺:

1、软件升级:终生免费提供新版本控制软件。

2、保修期内人为损坏的零部件按采购(加工)价格收费更换。

3、保修期外继续为用户提供优质技术服务,在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。

4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。

5、产品质保期:自安装正常使用日起一年;

 

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