体积电阻率和表面电阻率测试仪 ; 影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数,电阻率随温度和湿度的变化而显著变化。体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀,或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。
体积电阻率和表面电阻率测试仪 ; 外观
?显示采用4.3寸高分辨率TFT屏显示,操作简单
? ;机身小巧,功能强大
测试性能卓越
? ;回读电压精度0.5%?1V
?绝缘电阻最大精度1%
快速测试
? ;最小测试周期仅需200ms
恒压测试
? ;采用恒压测试法快速测量绝缘电阻
 ;
丰富的接口配置
? ;HANDLER口
? ;RS-232接口
? ;以太网接口
? ;U盘接口
供电
? ;198~240 V电源供电
? ;电源频率47Hz~63Hz
? ;最大功耗50W
说明
①电阻率ρ不仅和导体的材料有关,还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内,几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化,即ρ=ρo(1 at)。式中t是摄氏温度,ρo是O℃时的电阻率,a是电阻率温度系数。
②由于电阻率随温度改变而改变,所以对于某些电器的电阻,必须说明它们所处的物理状态。如一个220V
100W电灯灯丝的电阻,通电时是484欧姆,未通电时只有40欧姆左右。
③电阻率和电阻是两个不同的概念。电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性,电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。
根据高温塑料薄膜的测试需求(温度适应性、测量精度、样品兼容性等),以下是选型要点:
一、核心选型要素
测量原理与精度
三电极法:符合GB/T 10518-2006标准,适合绝缘材料高温电阻率测试。
四探针法:适用于薄膜类材料,可测方块电阻和电阻率,支持温度-电阻曲线分析。
电阻范围:至少覆盖10~101Ω,高阻值段(>;1012Ω)误差需≤?20%。
样品兼容性
夹具要求:薄膜样品直径应≥100mm(不足需定制电极)。
测试方式:表面电阻与体积电阻需分开测量,且必须先测表面电阻。
二、推荐对比
温度范围 测量原理 关键优势 适用标准
-160℃~500℃三电极法支持介质损耗/介电常数测试,控温精度?0.5℃GB/T 1409、ASTM D150
高温真空/气氛环境三环电极法 铂导线防信号衰减,触摸屏操作便捷GB/T 10518、ASTM
高温箱集成 四探针法自动绘制温度-电阻率曲线,适合导电薄膜分析半导体材料标准
未明确高温范围11通用法触控操作,支持固体/液体/薄膜,  ; ;GB/T 1410、ASTM D25711
三、操作注意事项
试样预处理:确保薄膜表面平整、无损伤,避免杂质干扰。
环境控制:多数仪器工作环境为0℃~40℃ . . . ,高温测试需外接温控设备。
数据校准:定期校验仪器,高阻值(>;1012Ω)段需重点验证精度。
产品特点:
本仪器具有精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便,适用于防静电产品 如防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防树脂云母体积表面电阻率测试仪静电活动地板等电阻值的检验以及绝缘材料和电子电器产品的绝缘电阻测量。本仪器除能测电阻外,还能直接测量电流如电子器件暗电流等
典型应用
1.硫化橡胶体积、表面电阻率测定
2.测量防静电鞋、导电鞋的电阻值
3.测量防静电材料的电阻及电阻率
4.测量计算机房用活动地板的系统电阻值
5.测量绝缘材料电阻(率)
6.光电二极管暗电流测量
7.物理,光学和材料研究
8.高分子材料表面体积电阻率测定
温度和湿度:固体绝缘材料的绝缘电阻率随温度和湿度的升高而降低,特别是体积电阻率随温度改变而变化非常大。因此,电瓷材料不但要测定常温下的体积电阻率,而且还要测定高温下的体积电阻率,以评定其绝缘性能的好坏。由于水的电导大,随着湿度增大,表面电阻率和有开口孔隙的电瓷材料的体积电阻率急剧下降。因此,测定时应严格地按照规定的试样处理要求和测试的环境条件下进行。
条件处理和测试条件的规定:固体绝缘材料的电阻随温度、湿度的增加而下降。试样的预处理条件取决于被测材料,这些条件在材料规范中规定。推荐使用GB10580《固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件》中规定的预处理方法。可使用甘油—水溶液潮湿箱进行湿度预处理。测试条件应与预处理条件尽可能地一致,有些时候(如浸水处理)不能保持预处理条件和测试条件一致时,则应在从预处理环境中取出后在尽可能短时间内完成测试,一般不超过5分钟。
参数
一般功能:
测量参数 ;绝缘电阻R,泄漏电流I,表面电阻Rs,体积电阻Rv
测试电压1-1000v  ;1000个档位可以调
测试范围 ;电阻5*102Ω~1*1016Ω(超出显示电流最大换算可到20次方), 电阻率最高可达到1022Ω.cm
测量方式:手动/自动两种
界面语言选择:英文/中文 两种
显示位数:4/5位  ;两种选择
测量模式:三种
测试速度可选择 ; ;快速5次/秒,慢速1次/秒,两种可选
回读电压精度 ;0.5%?1V
测试特点:带设置记忆功能开机一键测试出结果不用反复设置
可设定测量延时和放电延时
十种自定义测量模式可以用户自己编辑开机直接调取满足不同材料的测试需求
量程超限显示 ;量程上超
输入端子 ;香蕉插头,BNC插头
精度保证期 ;1年 根据计量证书有效期 ; ;可在全国任意检测所检测精度保证 ;
操作温度和湿度0℃到40℃80%RH以下(无凝结)
存储温度和湿度-10℃到60℃80%RH以下(无凝结)
操作环境 ;室内,最高海拔2000m
电源 ;电压:110V/ ;220V AC频率:47Hz/63Hz ;两种供电模式
功耗 ;50 W
尺寸 ;约331 mm x 329 mm x 80 mm
重量 ;约4.1kg
 ;
高温四探针电阻测试仪是一种专门用于测量材料在高温环境下电阻率/方阻的精密设备,其应用场景主要集中在需要高温、高精度电阻测量的领域。以下是其主要应用场景:
1.半导体材料与器件
半导体晶圆测试 ;:测量硅片、碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)等半导体材料在高温下的电阻率,评估材料性能。
功率器件开发 ;:用于IGBT、MOSFET等功率电子器件的高温导电性能测试,模拟实际工作环境。
薄膜材料 ;:测量高温沉积的导电薄膜(如ITO、金属薄膜)的方阻,优化镀膜工艺。
2.新能源材料
锂离子电池材料 ;:
正极/负极材料的高温电阻测试(如钴酸锂、磷酸铁锂、石墨等),研究材料在高温下的导电稳定性。
固态电解质材料的离子电导率评估。
燃料电池 ;:测试质子交换膜、电极材料在高温下的电阻特性。
3.高温超导材料
测量超导材料在临界温度附近的电阻变化,研究超导转变特性。
4.陶瓷与玻璃材料
高温结构陶瓷(如氧化铝、氮化硅)的绝缘性能测试。
导电陶瓷(如氧化锌压敏电阻)的电阻温度特性分析。
5.金属与合金
高温合金(如镍基合金、钛合金)的电阻率测量,用于航空航天发动机部件材料评估。
金属熔体(如液态金属)的电阻率在线监测。
6.科研与新材料开发
新型功能材料(如钙钛矿、拓扑绝缘体)的高温电学性能研究。
材料热稳定性测试,模拟极端环境(如航天、核工业)下的电阻变化。
7.工业质量控制
生产线上对耐高温电子元件(如高温传感器、加热元件)的电阻一致性检测。
烧结工艺过程中材料的实时电阻监控,优化烧结曲线。
技术特点
高温范围 ;:通常支持室温~1000℃甚至更高(依赖炉体设计)。
四探针法 ;:消除接触电阻影响,适合高阻、低阻材料。
自动化集成 ;:可与探针台、真空系统联用,实现原位测试。
典型行业
半导体制造、新能源电池厂、材料研究所、航空航天实验室、高等院校等。
如果需要更具体的场景(如某类材料的测试标准或设备选型建议),可以进一步补充说明!
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