产品

北京介电常数与介质损耗因数测试仪 ；  ；带屏蔽的简单西林电桥

 ；桥的B点(在测量臂边的电源接线端子)与屏蔽相连并接地。

 ；屏蔽能很好地起到防护高压边影响的作用，但是增加了屏蔽与接到测量臂接线端M和N的各根导线之间电容.此电容承受跨接测量臂两端的电压 这样会引人一个通常使tans的测量精度限于0.1%数量级的误差，当电容CX和CN不平衡时尤为显著。

北京介电常数与介质损耗因数测试仪 ；  ；频率范围

10kHz～50MHz

频率分段

(虚拟)

10～99.9999kHz

100～999.999kHz

1～9.99999MHz

10～60MHz  ； ； ； ；

电感：

线圈号 ； ； ；测试频率 ； ； ；Q值  ； ； ；分布电容p  ； ； ； ； ； ；电感值  ；

 ； ；9  ； ； ； ； ； ； ； ；100KHz  ； ； ； ； ；98  ； ； ； ； ； ；9.4  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；25mH

 ； ；8  ； ； ； ； ； ； ； ；400KHz  ； ； ； ；138  ； ； ； ； ； ；11.4  ； ； ； ； ； ； ；4.87mH

 ； ；7  ； ； ； ； ； ； ； ；400KHz  ； ； ；202  ； ； ； ； ； ；16  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；0.99mH

 ； ；6  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；1MHz  ； ； ； ；196  ； ； ； ； ； ；13  ； ； ； ； ； ； ； ； ；252μH

 ； ；5  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；2MHz  ； ； ； ；198  ； ； ； ； ； ；8.7  ； ； ； ； ； ； ；49.8μH

 ； ；4  ； ； ； ； ； ； ； ；4.5MHz  ； ； ；231  ； ； ； ； ； ；7  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；10μH

 ； ；3  ； ； ； ； ； ； ； ； ；12MHz  ； ； ； ； ；193  ； ； ； ；6.9  ； ； ； ； ； ； ； ；2.49μH

 ； ；2  ； ； ； ； ； ； ； ； ；12MHz  ； ； ； ； ；229  ； ； ； ；6.4  ； ； ； ； ； ； ；0.508μH  ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；

 ； ；1  ； ；25MHz，50MHz  ； ；233，211  ； ； ；0.9  ； ； ； ； ； ；0.125μH

在原理方面，高频介质损耗测试仪主要基于电桥法和谐振法。电桥法通过相位差检测技术，比对标准电容器与待测样品的电流相位差来计算复介电常数。而谐振法（Q表法）则利用谐振频率偏移或品质因数变化来评估介电特性。对于材料介电性能，介电常数反映材料储存电能的能力，介质损耗角正切值表示能量损耗比例。高频测试仪通常采用三电极结构设计以消除边缘效应误差，并通过数字化实时采集进行矢量运算。

用户可能从事电力设备检测或材料研究工作，需要这些专业参数来评估绝缘材料的高频特性。高频介质损耗测试仪的技术指标对材料研发和电力设备安全至关重要，特别是tanδ值过高会导致绝缘层温升加速老化。

GB/T 1409-2006标准规定了在15 Hz-300 MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值 ，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量.

 ； ； ； ；本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、

湿度，在特殊情况下也与电场强度有关有时在超过1 000 V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述.

介电常数，用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同

玻璃的损耗

复杂玻璃中的介质损耗主要包括三个部分：电导耗、松弛损耗和结构损耗。哪一种损耗占优势，取决于外界因素温度和电场频率。高频和高温下，电导损耗占优势：在高频下，主要的是由弱联系离子在有限范围内移动造成的松弛损耗：在高频和低温下，主要是结构损耗，其损耗机理目前还不清楚，可能与结构的紧密程度有关。般来说，简单玻璃的损耗是很小的，这是因为简单玻璃中的“分子”接近规则的排列，结构紧密，没有弱联系的松弛离子。在纯玻璃中加人碱金属化物后。介质损耗大大增加，并且随着加人量的增大按指数规律增大。这是因为碱性氧化物进人玻璃的点阵结构后，使离子所在处点阵受到破坏，结构变得松散，离子活动性增大，造成电导损耗和松弛损耗增加。

陶瓷材料的损耗

陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。

在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。

技术参数：

1．Q值测量

a．Q值测量范围：2～1023。

b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

c．标称误差

 ； ； ； ； ；频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：

 ； ； ； ； ；固有误差：≤5％?满度值的2%固有误差：≤6％?满度值的2%

 ； ； ； ； ；工作误差：≤7％?满度值的2%工作误差：≤8％?满度值的2%

2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH

3．电容测量：1~205

 ； ； ； ； ；主电容调节范围：18～220pF

 ； ； ； ； ；准确度：150pF以下?1.5pF；150pF以上?1%

 ； ； ； ； ；注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明

4.  ；信号源频率覆盖范围

 ； ； ； ； ；频率范围CH1:0.1～0.999999MHz， CH2: 1～9.99999MHz，

 ； ； ； ； ；CH3:10～99.9999MHz， CH1 :100～160MHz，

5．Q合格指示预置功能:  ； ； ； ； ；预置范围：5～1000。

6．B-测试仪正常工作条件

a.  ；环境温度：0℃～ 40℃；

b．相对湿度：<；80％；

c．电源：220V?22V，50Hz?2.5Hz。

7．其他

a．消耗功率：约25W；

b．净重：约7kg；

c.外型尺寸：（l?b?h）mm：380?132?280。

介质损耗（dielectric loss）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。

介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。

 ； ；电介质的用途

 ；电介质一般被用在两个不同的方面:

 ；用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；

 ；用作电容器介质

主要技术特性：

介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至最低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

高分子材料的损耗

高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。

高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。

高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至最低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。

附加特性对比?

?特性?	?电桥法?	?谐振法?
温度适应性	需严格温控（高精度要求）	对温湿度波动相对不敏感
操作复杂度	复杂（需手动调节平衡）	简便（自动扫频调谐）
多参数测量能力	可同步测Cx、tan、Rx	主要测Q值和谐振频率

 ；频率适用范围?

?方法?	?适用频率范围?	?原因?
电桥法	20Hz~MHz（中低频段）	高频时杂散电容和残余电感导致桥路平衡困难，精度下降。
谐振法	MHz~GHz（高频段）	电路结构简单，分布参数影响小，更适合高频测量。

宏观结构不均勾性的介质损耗

工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗最大的一相和损耗最小的一相之间。

工作原理差异?

?电桥法?

? ；基于?桥路平衡原理?：将待测样品与标准电容器/电阻构成电桥电路（如西林电桥），通过调节桥臂元件使电桥平衡，计算样品的电容（Cx）和损耗角正切。

? ；关键参数检测：测量?电压与电流的相位差?，通过相位差直接计算。

?谐振法?

? ；基于?LC谐振特性?：将样品置于谐振回路中，通过测量?谐振频率偏移（Δf）? 或?品质因数（Q值）的变化?，间接推算。

常用替代法：如并联替代法消除分布电容误差，通过两次调谐计算。

主要产品有：

拉力试验机， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；塑料球压痕硬度计

维卡热变形试验仪， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；体积表面电阻率测试仪

海绵泡沫落球回弹试验机， ； ； ； ； ； ； ； ； ；海绵泡沫拉伸强度试验机

耐压试验机， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；介电常数测试仪

海绵泡沫压陷硬度测验仪， ； ； ； ； ； ； ； ； ；介质损耗测试仪

海绵泡沫疲劳压陷试验机， ； ； ； ； ； ； ； ； ；薄膜冲击试验机

熔融指数仪， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；无转子硫化仪

电压击穿试验仪， ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；摩擦系数仪

低温脆性冲击试验仪 ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ； ；阿克隆磨耗试验机等。

安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在第一次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。