高频Q表介质损耗测试仪北京厂家 ; ;使用和保养
高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器,在合理使用和注意保养情况下,才能保证长期稳定和较高的测试精度。
a.熟悉本说明书,正确地使用仪器;
b.使仪器经常保持清洁、干燥;
c.本仪器保用期为18个月,如发现机械故障或失去准确度,可以原封送回本厂,免费修理。
高频Q表介质损耗测试仪北京厂家 ; ;技术参数:
1.Q值测量
a.Q值测量范围:2~1023。
b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c.标称误差
 ; ; ; ; ;频率范围(100kHz~10MHz): 频率范围(10MHz~160MHz):
 ; ; ; ; ;固有误差:≤5%?满度值的2%固有误差:≤6%?满度值的2%
 ; ; ; ; ;工作误差:≤7%?满度值的2%工作误差:≤8%?满度值的2%
2.电感测量范围:4.5nH~7.9mH
3.电容测量:1~205
 ; ; ; ; ;主电容调节范围:18~220pF
 ; ; ; ; ;准确度:150pF以下?1.5pF;150pF以上?1%
 ; ; ; ; ;注:大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明
4.  ;信号源频率覆盖范围
 ; ; ; ; ;频率范围CH1:0.1~0.999999MHz, CH2: 1~9.99999MHz,
 ; ; ; ; ;CH3:10~99.9999MHz, CH1 :100~160MHz,
5.Q合格指示预置功能:  ; ; ; ; ;预置范围:5~1000。
6.B-测试仪正常工作条件
a.  ;环境温度:0℃~ 40℃;
b.相对湿度:<;80%;
c.电源:220V?22V,50Hz?2.5Hz。
7.其他
a.消耗功率:约25W;
b.净重:约7kg;
c.外型尺寸:(l?b?h)mm:380?132?280。
核心原理与技术
. 高频谐振法 .
通过谐振电路捕捉材料在特定频率(如1MHz-10GHz)下的电容与电感参数变化,计算介电常数。
示例流程:放置样品→调节电容至谐振点→记录Q值最大值→自动计算介电常数。
. 平行板电容法 .
适用于固体材料,通过上下电极夹持样品,测量电容变化推导介电性能。
. 微波共振技术 .
采用TM空洞共振腔(如日本AET仪器),适用于1GHz以上高频段,可测低损耗材料如PTFE、高纯陶瓷
仪器类型与适用场景
. 类型 . . 特点 . . 适用材料 .
平板电容法测试仪操作简单,适合粘稠液体或固体片状样品
塑料、陶瓷、薄膜
微波共振测试仪高精度(?1%),支持条形样品非破坏性检测
PCB基板、高频电路材料
阻抗分析测试仪宽频段覆盖(20kHz-160MHz),支持复介电常数测量
橡胶、绝缘复合材料
材料介电参考:
水 ; ; ; ; ;81.5
橡胶2~3
硬橡胶4.3
纸2.5
琥珀2.8
玻璃5~10
云母6~8
无线电瓷6~6.5
空气 ; ; ;1.000585
石蜡2.0~2.3
花岗石 ;8.3
大理石 ;6.2
食盐 ; ; ;7.5
氧化铍 ;9
聚氯乙烯3.1~3.5
苯 ; ; ; ; ;2.283
油漆 ; ; ;3.5
甘油 ; ; ;45.8
干砂 ; ; ;2.5
形式
各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的,所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式:
1)漏导损耗
实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质,在外电场的作用下,总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流,这种微小电流称为漏导电流,漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷,或多或少存在一些带电粒子或空位,因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。
2)极化损耗
在介质发生缓慢极化时(松弛极化、空间电荷极化等),带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。
一些介质在电场极化时也会产生损耗,这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短(约为10-16~10-12s),这在无线电频率(5?1012Hz以下)范围均可认为是极短的,因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化(例如松弛极化、空间电荷极化等)在外电场作用下,需经过较长时间(10-10s或更长)才达到稳定状态,因此会引起能量的损耗。
若外加频率较低,介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化,则不产生极化损耗。若外加频率较高时,介质中的极化跟不上外电场变化,于是产生极化损耗。[2]
3)电离损耗
电离损耗(又称游离损耗)是由气体引起的,含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时,由于气体的电离吸收能量而造成指耗,这种损耗称为电离损耗。
4)结构损耗
在高频电场和低温下,有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大,耗功随频率升高而增大。
试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小,但是当某此原因(如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等)使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。
5)宏观结构不均勾性的介质损耗
工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此,它通常包含有晶相、玻璃相和气相,各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同,有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀,造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看,整个电介质的介质损耗必然介于损耗最大的一相和损耗最小的一相之间。
介质损耗(dielectric loss)指的是绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。
介质损耗因数(dielectric loss factor)指的是衡量介质损耗程度的参数。
?关键对比与选择??场景? | ?推荐电桥类型? | ?优势? |
中低阻值精确测量(Ω级) | 惠斯通电桥 | 结构简单,成本低7 |
毫欧级微小电阻检测 | 凯尔文电桥 | 消除导线电阻误差7 |
高频介质损耗分析 | 西林电桥 | 支持10kV高压,抗干扰强 |
信号源频率覆盖范围
 ; ; ; ; | A | C |
频率范围 | 10kHz~60MHz | 0.1~160MHz |
CH1 | 10~99.9999kHz | 0.1~0.999999MHz |
CH2 | 100~999.999kHz | 1~9.99999MHz |
CH3 | 1~9.99999MHz | 10~99.9999MHz |
CH4 | 10~60MHz | 100~160MHz |
频率指示误差 | 3?10-5?1个字 |
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关于高频介质损耗测试仪的特点及原理:高频介质损耗测试仪具备宽频率范围(20Hz-1MHz甚至更高),采用高精度LCR测量电路和24位AD转换器实现微伏级信号分辨,配备温控模块支持-40℃至200℃温度范围。仪器具备多重保护机制,包括输入电压波动、输出短路、过压过流保护等安全特性。此外,测试仪还能测量电感量和品质因数等参数,并支持数据存储和管理功能。
在原理方面,高频介质损耗测试仪主要基于电桥法和谐振法。电桥法通过相位差检测技术,比对标准电容器与待测样品的电流相位差来计算复介电常数。而谐振法(Q表法)则利用谐振频率偏移或品质因数变化来评估介电特性。对于材料介电性能,介电常数反映材料储存电能的能力,介质损耗角正切值表示能量损耗比例。高频测试仪通常采用三电极结构设计以消除边缘效应误差,并通过数字化实时采集进行矢量运算。
用户可能从事电力设备检测或材料研究工作,需要这些专业参数来评估绝缘材料的高频特性。高频介质损耗测试仪的技术指标对材料研发和电力设备安全至关重要,特别是tanδ值过高会导致绝缘层温升加速老化。
典型应用场景
电力设备:评估高压电缆、电容器、变压器绝缘材料的温升特性。
电子材料:分析高频电路基板、陶瓷电容器的介电性能。
科研领域:研究复合材料、纳米材料在不同温度/频率下的极化机制。
高频介质损耗试验仪通过电桥法和谐振法的融合设计,结合宽频、高精度及温控功能,成为材料介电特性研究的核心设备
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