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高温四探针电阻率测试仪厂家 ；  ；高温四探针电阻率测试仪厂家

一.概述：

采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制，解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求，软件实时绘制出温度与电阻，电阻率，电导率数据的变化曲线图谱，及过程数据值的报表分析.

二.适用行业：:

用于：企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶（棒料、晶片）电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃（ITO）和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.

双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国A.S.T.M标准。

三.型号及参数：

特点：

●电阻最?精度：0.01%，最小分辨率0.1uΩ；

●方电阻精度：1%，最小分辨率：0.1uΩ；

●双电测原理，提?精度和稳定性；

●测试探头直排和矩形可选；

●标配RS232、LAN、IO、通讯接?；

●可配戴软件查看和记录测试数据；

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高温塑料薄膜电阻率测定仪

首先和提到仪器的工作温度范围通常是0-40℃，但用户要的是高温测定仪。仪器标注了"高低温"测试能力，虽然具体温度值没写，但既然能叫高低温测试仪，应该能满足基本高温需求。

技术参数方面，这些仪器共性很强：电阻测量范围都在10^4到10^18欧姆（见），测试电压标配多档位（10V-1000V可调），精度普遍在1%-5%之间。特别注意到的BEST-212型用了触摸屏，操作可能更便捷。

用户可能需要关注测量标准。和都强调符合GB/T 1410-2006和ASTM D257标准，这对出具权威报告很重要。

另外所有仪器都提到要配合专用电极夹具（），买的时候别忘了确认薄膜夹具是否另购。

以下是针对高温塑料薄膜电阻率测定仪的关键信息汇总：

. . 核心功能要求

. 高温测试能力 .

. 技术参数范围 .

. 电阻测量 . ：覆盖范围广（0.01?10 . Ω ~ 1?101 . Ω），满足绝大多数绝缘材料测试需求。

. 测试电压 . ：内置多档直流电压（10V/50V/100V/250V/500V/1000V），可自由切换。

. 精度 . ：基本准确度达?1%，高阻值段（>；1012Ω）误差?20%以内。

. 电流检测 . ：可测微弱电流（2?10 . . A ~ 1?10 . 1 . A）。

. . 测试标准与适用性

. 符合标准 . ：GB/T 1410-2006、ASTM D257，适用于防静电产品（鞋、橡胶制品）、绝缘材料及电子器件的电阻检测。

. 试样要求 . ：需搭配专用电极夹具，薄膜类试样直径建议>；100mm（不足需定制电极）。

. 用户选择适合的高温塑料薄膜电阻率测定仪。这个问题涉及专业设备选型，得仔细分析搜索结果的各项参数和功能。

关于测量原理，不同方法各有优劣：三电极法符合GB/T 10518标准，适合绝缘材料；四探针法对薄膜类更精准但要求样品平整。

技术参数方面有几个重点：电阻范围需覆盖10 . ~101 . Ω，电流检测要低至10 . 1 . A。电压档位最好有10-1000V多档调节，精度方面高阻值段(>；1012Ω)允许?20%误差是行业常态。

使用便捷性也不能忽视。试样处理环节很重要，直径小于100mm可能需要定制电极。

特别提醒用户注意多数设备环境温度限值40℃，真正的"高温"功能需单独确认，比如三环电极法的真空加热系统。

最后想到两个易遗漏点：一是电阻测试必须配合高温试验台使用；二是表面电阻和体积电阻的测量顺序不能颠倒。这些实操细节要在建议里强调。

根据高温塑料薄膜的测试需求（温度适应性、测量精度、样品兼容性等），以下是选型要点：

. 一、核心选型要素 .

. 测量原理与精度 .

. 三电极法 . ：符合 . GB/T 10518-2006 . 标准，适合绝缘材料高温电阻率测试。

. 四探针法 . ：适用于薄膜类材料，可测方块电阻和电阻率，支持温度-电阻曲线分析。

. 电阻范围 . ：至少覆盖 . 10 . ~101 . Ω . ，高阻值段（>；1012Ω）误差需≤?20%。

. 样品兼容性 .

. 夹具要求 . ：薄膜样品直径应≥100mm（不足需定制电极）。

. 测试方式 . ：表面电阻与体积电阻需分开测量，且必须先测表面电阻。

. 二、推荐对比 .

. . 温度范围 . . 测量原理 . . 关键优势 . . 适用标准 .

. -160℃~500℃三电极法支持介质损耗/介电常数测试，控温精度?0.5℃GB/T 1409、ASTM D150

. 高温真空/气氛环境三环电极法铂导线防信号衰减，触摸屏操作便捷GB/T 10518、ASTM

高温箱集成四探针法自动绘制温度-电阻率曲线，适合导电薄膜分析半导体材料标准

. 未明确高温范围11通用法触控操作，支持固体/液体/薄膜，  ； ；GB/T 1410、ASTM D25711

.

. 三、操作注意事项 .

. 试样预处理 . ：确保薄膜表面平整、无损伤，避免杂质干扰。

. 环境控制 . ：多数仪器工作环境为0℃~40℃ . . . ，高温测试需外接温控设备。

. 数据校准 . ：定期校验仪器，高阻值（>；1012Ω）段需重点验证精度。

什么是电阻率 .

　　电阻跟导体的材料、横截面积、长度有关。

　　导体的电阻与两端的电压以及通过导体的电流无关。

导体电阻跟它长度成正比，跟它的横截面积成反比．

说明

　　①电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内，几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρo(1 at)。式中t是摄氏温度，ρo是O℃时的电阻率，a是电阻率温度系数。

　　②由于电阻率随温度改变而改变，所以对于某些电器的电阻，必须说明它们所处的物理状态。如一个220V

　　100W电灯灯丝的电阻，通电时是484欧姆，未通电时只有40欧姆左右。

　　③电阻率和电阻是两个不同的概念。电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性，电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。

电阻率的测量方法和精度

　　1、方法：测量高电阻常用的方法是直接法和比较法.

　　直接法是测量加在试样上的直流电压和流过试样的电流而求得试样电阻.直接法主要有检流计法和直流放大法（高阻计法）比较法主要有检流计法和电桥法.

　　2、精度：对于大于10的10Ω的电阻，仪器误差应在?20%的范围内；对于不大于10的10Ω的电阻，仪器误差应在?10%的范围内.

　　3、保护：测量仪器用的绝缘材料一般只具有与被测材料差不多的性能.试样的测试误差可以由下列原因产生：

　　①外来寄生电压引起的杂散电流通渠道.通常不知道它的大小，并且有漂移的特点；

　　②测量线路的绝缘材料与试样电阻标准电阻器或电流测量装置的并联.

高温塑料薄膜电阻率测定仪恒温范围选择方法

铂薄膜RTD最高可测850℃，但塑料薄膜基材通常承受不了这么高温度。这说明恒温范围选择要先考虑材料耐温性，而非仪器极限值。比如聚酰亚胺薄膜通常不超过400℃，而PE薄膜测试温度可能只需80-120℃。

需要分三个维度建议：材料特性（分解温度/相变点）、测试目的（质量控制/科研）、环境要求（气氛保护）。尤其要提醒用户注意GB/T 1410标准中要求的预处理温度和时间，这些都会影响恒温范围设定。

选择高温塑料薄膜电阻率测定仪的恒温范围需综合材料特性、测试标准及仪器性能，具体方法如下：

 ；一、根据材料特性选择材料耐温上限 .

常见塑料薄膜（如PI、PET、PEI）的软化点通常为 . 200℃~400℃ . ，测试温度应低于材料分解温度 . 20~50℃ . ，避免形变或性能劣化影响数据准确性。

例如：聚酰亚胺（PI）薄膜建议恒温范围 . ≤350℃ . 。

. 相变点或玻璃化转变温度（Tg） .

测试温度需覆盖材料关键相变点（如Tg、熔点），例如研究导电薄膜时需包含 . 室温~200℃ . 区间以观察电阻率突变。

二、匹配测试标准与实验目的标准规范要求 .

GB/T 10518-2006规定绝缘材料高温电阻测试需在 . 100℃~500℃ . 范围进行。

ASTM D257建议测试温度至少比材料最高使用温度高 . 25℃ . 。

. 功能需求 .

若需研究温度-电阻率曲线，恒温范围应覆盖 . 材料最低工作温度至最高失效温度 . （如 . -70℃~300℃ . ）。

仅需高温点测试（如150℃质量控制），可选单点恒温机型。

. . . 三、仪器性能关键参数

. 温控范围与精度 .

优先选择宽温域机型：如 . GDW-500 . （ . -160℃~500℃ . ）或 . HTIM-1000 . （真空/气氛环境）。

控温精度需 . ≤?0.5℃ . （如GDW-500），避免波动导致阻值漂移。

. 温场均匀性 .

样品区域温差应 . <；?2℃ . ，确保薄膜受热均匀。可通过红外热成像验证设备温场分布。

四、操作限制与风险规避

. 仪器工作环境约束 .

多数电阻率测试仪主机仅适应 . 0℃~40℃ . 环境，高温测试需外接独立温控腔体（如GDW-500的液氮制冷系统）。

. 样品预处理要求 .

高温测试前需在目标温度下恒温 . ≥30分钟 . ，消除热历史效应。

. . 选型推荐表

. 材料类型 . . 建议恒温范围 . . . . 关键优势 .

. 通用塑料薄膜 . 室温~300℃性价比高，操作简便

. 耐高温薄膜 . -70℃~500℃宽温域，液氮制冷，精度?0.5℃

. 导电/半导体膜 . 真空环境~600℃铂电极防氧化，支持气氛控制

. 注 . ：极端条件测试（如>；500℃）需定制设备，并确认电极材料（如铂金）与夹具的耐温性